ZnxLaxS İnce Filmlerinin Yüzeysel Analizleri

Abstract

– Bu çalışmada çözelti yöntemine dayalı olarak üretilen ZnxLaxS (ZnLaS) ince filmlerinin yüzey analizleri X-ışını fotoelektron spektroskopisi XPS, atomik kuvvet mikroskobu, AFM ve taramalı elektron mikroskobu, SEM cihazları ile incelendi. XPS ölçümleri ZnLaS ince filmlerinde Zn+2, La+3 ve S-2 iyonlarının varlığını ve Zn-S bağlarının oluştuğunu teyit etti. SEM analizleri ZnLaS film yüzeylerinin homojen ve yoğun olduğunu ve yüzeylerde az da olsa mikro boyutlu çatlakların olduğunu gösterdi. Aynı zamanda film yüzeylerindeki parçacık boyutlarının değiştiği de SEM analizlerinden anlaşıldı. SEM cihazına bağlı enerji dağılım x-ışını spektrometresi (EDX) film örneklerinde Zn, La ve S elementlerinin varlığını tespit etti. İki ve üç boyutlu AFM görüntülerinde ZnLaS ince filmlerinin tane boyutlarının La katkı miktarına göre değiştiğini ve yüzey pürüzlülüğünün arttığı gözlemlendi. Elde edilen bu sonuçlar filmlerin optik ve yüzeysel özelliklerinin ön plana çıktığı güneş pili ve fotokatalitik gibi uygulamalara uygun olabileceği düşünülmektedir.