Au/Al/p-Si eklem yapının akım-gerilim (I-V) karakteristiklerinin sıcaklığa bağlı karakterizasyonu

Abstract

– Schottky diyotlarda akım-gerilim karakteristikleri ve onların analizleri daima ilgi çekici olmuştur. Bu yapıların sıcaklığa bağlı karakterizasyonu ara yüzeyde engel oluşumunun doğası hakkında ayrıntılı bilgi vermekte ve iletkenlik mekanizmasının anlaşılmasında derinlik sağlamaktadır. Bu çalışmada bir Au/Al/pSi çoklu eklem yapının elektriksel karakteristikleri 150-300 K sıcaklık aralığında ölçülmüş akım-gerilim (I-V) karakteristikleriyle engel yüksekliği, idealite faktörü ve Richardson grafiği gibi bazı engel parametrelerinin analizi yapıldı. Analizler sonucunda, düşük sıcaklıklarda engel yüksekliğinde ki azalma ve idealite faktöründe de ki artış gibi anormallikler metal-yarıiletken ara yüzeyinde ortaya çıkan engel yüksekliklerindeki homojensizliklerden kaynaklandığı tespit edildi.