498 Sol-gel Tekniği ile Üretilen ZnS Nanoyapılarının XRD, SEM, EDX, FTIR ve XPS ile Karakterize Edilmesi

Abstract

Bu çalışmada, farklı başlangıç koşulları kullanılarak hazırlanan ZnS ince film nanoyapıları, argon ortamında ve 600 oC'de cam altlıklar üzerine sol-jel daldırma kaplama tekniği ile hazırlandı. Üretilen ZnS ince filmleri XRD, SEM, EDX, XPS ve FTIR analizleri ile karakterize edilmiştir. XRD yapı analizi sonuçları, filmlerin hexagonal ZnS fazıyla birlikte baskın kübik ZnS kristal fazında olduğunu gösterdi. SEM analizleri tanelerin film yüzeyinde rastgele dağılmış olduğunu ve pürüzsüz bir yüzey sergilediğini ve ayrıca Zn/Zn+2 ve S/S-2'nin element/iyonlarının varlığı EDX ve XPS incelemeleri ile belirlendi. EDX ve XPS analizleri oluşan ZnS ince fillerinde Zn/S molar oranının beklenen seviyede olduğunu ispatladı. Zn-S bağlarının yapıda oluştuğu FTIR analizi ile kanıtlandı. Bu gözlemler ve bulgular literatür ile uyum içerisinde olup mümkün ZnS endüstriyel uygulamalarında kullanılabilinme potansiyeline sahiptir.